Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata

Main Article Content

Sipkás Vivien
Vadászné Bognár Gabriella

Absztrakt

A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási analízise során a gyorsított élettartam vizsgálati módszert kívánjuk alkalmazni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan. 

Letöltések

Letölthető adat még nem áll rendelkezésre.

Article Details

Hogyan kell idézni
Sipkás, Vivien, és Gabriella Vadászné Bognár. 2017. „Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata”. Jelenkori Társadalmi és Gazdasági Folyamatok 12 (4):95-102. https://doi.org/10.14232/jtgf.2017.4.95-102.
Folyóirat szám
Rovat
Tanulmányok