Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata
Main Article Content
Absztrakt
A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási analízise során a gyorsított élettartam vizsgálati módszert kívánjuk alkalmazni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan.
Letöltések
Letölthető adat még nem áll rendelkezésre.
Article Details
Hogyan kell idézni
Sipkás, Vivien, és Gabriella Vadászné Bognár. 2017. „Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata”. Jelenkori Társadalmi és Gazdasági Folyamatok 12 (4):95-102. https://doi.org/10.14232/jtgf.2017.4.95-102.
Folyóirat szám
Rovat
Tanulmányok